閉環(huán)優(yōu)化納米金屬燒結(jié)的方法

2021-03-11 12:17 睿度光電RUIDU
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西安電子科技大學(xué)黃進(jìn)教授課題組提出了一種基于非接觸高度和溫度傳感器反饋的導(dǎo)電圖案成型燒結(jié)方式,并借助MicroFab的Inkjet集成噴墨打印系統(tǒng)進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)。該方式可有效防止納米銀的不完全或過(guò)度燒結(jié),并得到三次燒結(jié)工藝后形成的電阻率為13.44μΩ/cm的納米銀導(dǎo)電層,高效、環(huán)保地制備出了性能良好的微帶天線,其回波損耗和回波模式均與傳統(tǒng)制造方法制備出的一致。




強(qiáng)脈沖光子燒結(jié)是一種加工速度快,制備效率高并且適合于導(dǎo)電圖案成型的燒結(jié)工藝;但是,這種工藝方法存在著燒結(jié)處容易破壞和成型穩(wěn)定性差的問(wèn)題。為了克服這些缺點(diǎn),西安電子科技大學(xué)黃進(jìn)教授課題組在“Closed-loop optimized nanometal sintering method”(發(fā)表于《Journal of Manufacturing Process》)的研究中,提出了一種基于非接觸高度和溫度傳感器反饋的導(dǎo)電圖案成型燒結(jié)方式。該方法利用雙攝像頭視覺(jué)系統(tǒng)來(lái)提取樣品的表面特征,利用溫度傳感器來(lái)測(cè)量樣品的表面溫度分布,采用權(quán)重法將兩組數(shù)據(jù)進(jìn)行融合,進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)導(dǎo)電圖案的燒結(jié)狀態(tài),并對(duì)下次燒結(jié)操作參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。該系統(tǒng)可用于印刷和燒結(jié)微帶天線。文中通過(guò)該套系統(tǒng)制備的天線,經(jīng)實(shí)驗(yàn)檢測(cè),其回波損耗和回波模式,與傳統(tǒng)制造方法制備出的一致。結(jié)合傳感器反饋系統(tǒng)的強(qiáng)脈沖光燒結(jié)法不僅提高了成品率,縮短了生產(chǎn)周期,而且還是一種污染少環(huán)保性強(qiáng)的制作工藝。

噴墨打印技術(shù)(Inkjet printing)是一種材料利用率*高的增材制造工藝,在電子印刷領(lǐng)域具有極廣的應(yīng)用前景。與傳統(tǒng)的刻蝕和其他圖形化生產(chǎn)工藝不同,噴墨打印不需要刻蝕掉多余的材料,具有*高的成本效益。此外,噴墨打印不會(huì)產(chǎn)生大量的鉛/銅化合物或蝕刻中常見(jiàn)的副產(chǎn)品甲醇/乙二醇醚,因此避免了空氣、水和土壤污染。本次研究通過(guò)使用MicroFab公司研發(fā)的Inkjet集成噴墨打印系統(tǒng)將噴墨打印和強(qiáng)脈沖光子燒結(jié)技術(shù)結(jié)合在一起,制備出性能良好的微帶天線。

實(shí)驗(yàn)方案:制備納米銀導(dǎo)電圖案之前,要確定燒結(jié)功率,燒結(jié)程度以及燒結(jié)的穩(wěn)定性。本文中將溫度測(cè)量系統(tǒng)、視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)、燒結(jié)系統(tǒng)和噴墨打印系統(tǒng)集成在一起來(lái)制備導(dǎo)電圖案。

圖1:(a)燒結(jié)工藝的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)圖片;(b)燒結(jié)工藝的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)示意圖;(c)溫度測(cè)量系統(tǒng)的示意圖;(d)視覺(jué)測(cè)量系統(tǒng)示意圖。


圖2:(a)納米銀的電阻率與燒結(jié)次數(shù)的關(guān)系圖以及選擇出地對(duì)應(yīng)的FESEM圖;(b),(c),(d)分別為**次,第二次,第三次燒結(jié)時(shí)的熱場(chǎng)分布圖。


▲ 圖3:(a)溫度測(cè)量系統(tǒng)示意圖;(b),(c),d分別為**次,第二次,第三次燒結(jié)時(shí)溫度曲線圖。使用簡(jiǎn)單去除平均法來(lái)消除信號(hào)噪聲的影響,對(duì)導(dǎo)電圖案和襯底之間的溫度分布進(jìn)行對(duì)比,發(fā)現(xiàn)兩者的溫差隨燒結(jié)次數(shù)的增加而增加,從**次燒結(jié)后的2.32℃到第三次燒結(jié)的14.17℃。因此得出燒結(jié)的增加能夠促進(jìn)銀納米粒子致密層的形成,有效提高了導(dǎo)電圖案的導(dǎo)熱性。


圖4:(a,b,c分別表示**次,第二次,第三次燒結(jié)后納米銀導(dǎo)電圖案的AFM圖。在預(yù)燒結(jié)之前,銀納米粒子隨機(jī)沉積在基體上,導(dǎo)致預(yù)燒結(jié)表面粗糙。用AFM對(duì)不同燒結(jié)程度的導(dǎo)電圖案的表面形貌進(jìn)行了測(cè)量,粗糙度值Ra可以從對(duì)角線白虛線上計(jì)算出來(lái)。經(jīng)過(guò)一次燒結(jié)后,如圖4a所示,樣品的表面形貌較為粗糙,Ra為12.030 nm。但經(jīng)過(guò)第二次燒結(jié)后,Ra下降到7.425 nm。光子燒結(jié)時(shí)釋放的能量使銀納米粒子熔化并相互連接,形成連接相;因此,經(jīng)過(guò)三次燒結(jié)后,導(dǎo)電圖案的表面趨于光滑,如圖4(c)所示,Ra值低至3.857 nm。由此證明,表面形貌的差異可以用來(lái)決定導(dǎo)電圖案的燒結(jié)程度的好壞。


圖5:視覺(jué)系統(tǒng)測(cè)量示意圖。


圖6:(a溫度系統(tǒng)與視覺(jué)系統(tǒng)數(shù)據(jù)融合處理;b溫度系統(tǒng)和視覺(jué)系統(tǒng)數(shù)據(jù)權(quán)重信息;c恒功率密度及優(yōu)化燒結(jié)功率的方法;d某一固定功率和優(yōu)化后的燒結(jié)功率的電阻率變化的比較;e樣品的測(cè)量過(guò)程;f某一固定功率和優(yōu)化的燒結(jié)功率方法在不同溫度下的電阻率變化的比較。


導(dǎo)電圖案在燒結(jié)過(guò)程的早期會(huì)保留一些溶劑,可能會(huì)影響視覺(jué)系統(tǒng)的運(yùn)行,但在燒結(jié)后期導(dǎo)電圖案的形態(tài)變化是敏感的。燒結(jié)初期的溫度系統(tǒng)靈敏度是高于燒結(jié)后期的溫度系統(tǒng)靈敏度?;诖爽F(xiàn)象,本文提出了一種變權(quán)的雙系統(tǒng)數(shù)據(jù)融合方法。根據(jù)反饋的數(shù)據(jù)調(diào)整燒結(jié)參數(shù)。視覺(jué)系統(tǒng)不需要掃描整個(gè)樣本,它只需要掃描均勻分布在樣品表面的4-8條線來(lái)計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)偏差和評(píng)估導(dǎo)電圖案。

總而言之,本文針對(duì)光子燒結(jié)穩(wěn)定性差的缺點(diǎn),創(chuàng)新性地介紹了一種基于視覺(jué)和溫度系統(tǒng)反饋可自動(dòng)調(diào)整的燒結(jié)參數(shù),并采用變權(quán)的算法將這兩種數(shù)據(jù)進(jìn)行融合,來(lái)確定導(dǎo)電圖案的燒結(jié)工藝。最終實(shí)驗(yàn)證明,該方法可有效地防止納米銀的不完全或過(guò)度燒結(jié),并得到三次燒結(jié)工藝后形成的電阻率為13.44μΩ/cm的納米銀導(dǎo)電層。

參考文獻(xiàn):
[1] Fanbo Meng, Jin Huang, Pengbing Zhao, et al. Closed-loop optimized nanometal sintering method[J]. Joural of Manufacturing Process, 59 (2020) 403-410.
論文鏈接:
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S1526612520306708


專(zhuān)注于通過(guò)Inkjet、EHD、Ultra-sonic等微流體控制技術(shù)進(jìn)行高精度功能性納米材料微納沉積打印的開(kāi)發(fā)及應(yīng)用